日立ハイテク プロセス評価・分析技術セミナー
2011年11月 8日
日立ハイテクノロジーズによるプロセス評価・分析技術セミナーが12/6東京12/13大阪にて
(いずれも10:00-17:05)開催されます。
次世代半導体、プロセス、解析技術関連するテーマとして太陽電池用シリコン結晶の評価
Si,ガラスウエハの常温接合:SiCデバイス素材の電子顕微鏡による微細構造評価など
定員あり先着順、参加費無料となっております。
お問い合わせは日立ハイテクノロジーズまで
お問い合わせは: お問い合わせフォーム をご利用ください。
または、各事業所へ直接ご連絡ください。
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長野支店 TEL 026-284-6111(代) FAX 026-283-0130 |
佐久営業所 TEL 0267-68-2111(代) FAX 0267-68-4485 |
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南信営業所 TEL 0265-76-6111(代) FAX 0265-76-6981 |
マニファクチャリング 事業推進部 TEL 0285-41-1772 FAX 0285-41-1773 |
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